SWRCHB334 بيانات المادة

المرجع الفعلي هو الأصل الياباني لـ JIS G3508-1:2005؛ ليست نتيجة تحقق من النص الأصلي الرسمي لإصدار 2010. هذا السجل للفائف قضبان خام SWRCHB؛ يجب تأكيد حالة تسليم الأسلاك بعد معالجة SWCHB وخواصها الميكانيكية والمواصفة المنطبقة منفصلةً؛ لا يُجرى استبدال تلقائي أو يُضاف التزام توريد. لا يُحدد لـ B إلا حد أدنى ≥0.0008%؛ لا يوجد حد أعلى بالجدول الأصلي، ولا يُضاف حد أعلى عام للبورون؛ العناصر غير المدرجة لا تُملأ بـ 0. ملاحظة الجدول 2 بالمتن: Cr≤0.20%، والشوائب Cu≤0.30% وNi≤0.20%؛ افتراضياً Si هو 0.10—0.35%؛ متطلبات Si الأقل من 0.10% تُحدد باتفاق منفصل فقط. B≥0.0005% خيار اتفاق في ملاحظة 2 بالجدول 2 فقط، ولا يحل محل الافتراضي ≥0.0008%؛ يمكن اختيار شرط التركيب الحالي منفرداً. 6.1: متوسط عمق نزع الكربون ينطبق فقط عند تحديد المشتري للفحص؛ عند d≤15mm نزع الكربون الفريتي/الكلي ≤0.02/0.15mm، وعند 15<d≤25mm ≤0.03/0.20mm، وعند 25<d≤32mm ≤0.04/0.25mm، وd>32mm بالاتفاق. 6.2: قابلية التقسية تنطبق فقط عند تحديد المشتري لمسافات الاختبار والحدود الدنيا والعليا، وفق الجدول 6—17 بهذا الإصدار؛ لم تُدرج حزمة صلادة Jominy المحددة خليةً خلية بعد، ولا تُعامل كصلادة تسليم ثابتة، ولا تُختلق درجات بلاحقة H. افتراضياً عمق العيوب السطحية ≤0.10mm؛ مستويات السطح الأشد ودقة الأبعاد تتطلب اتفاقاً مستقلاً. يحدد المشتري حجم الحبيبات والمتضمنات غير المعدنية، ويتفق الطرفان على الحدود.

إحدى الدرجات الرسمية للفائف قضبان الأسلاك البالغ عددها 12 بالجدول 1 في البند 3 بمتن الأصل الياباني لـ JIS G 3508-1:2010؛ الجدول 2 لتحليل الصهرة بالنسبة الكتلية wt%. افتراضياً في الجدول 2 بالمتن B≥0.0008%، دون حد أعلى؛ B≥0.0005% ينطبق باتفاق الطرفين فقط، ولا يحل محل القيمة الافتراضية. افتراضياً في الجدول 2 بالمتن Si 0.10—0.35%؛ Si أقل من 0.10% يتطلب اتفاق الطرفين منفصلاً. الجدول 2 بالمتن لجميع أنواع الفولاذ: Cu≤0.30% وNi≤0.20% وCr≤0.20%؛ لا تُطبق هذه الحدود الثلاثة على الملحق المعلوماتي JB. نزع الكربون بالبند 6.1 وقابلية التقسية بالبند 6.2 ينطبقان عند تحديد المشتري فقط؛ لم تُهيكل حزم الصلادة لكل مسافة بالجدول 6—17 بعد، ولا تُعتبر صلادة تسليم ثابتة. هذا السجل للفائف قضبان خام SWRCHB؛ تُراجع أسلاك SWCHB وفق مواصفة المنتج والحالة والعقد منفصلةً.